• Ezpay科技

    400-850-4050

    EMMI缺陷定位方法在芯片失效分析中的应用

    2022-08-10  浏览量:476

     

    半导体器件在电应力激发条件下,内部载流子发生能级跃迁会伴有一定的光子发射,产生光辐射现象,EMMI就是对这些光辐射现象进行显微探测的技术。顺利获得对发光点的分析,可以定位到器件失效部位。Ezpay科技检测将于8月15日(下周一)召开线上技术研讨会,分享半导体器件的典型失效类型、EMMI 的工作原理与典型应用,解决芯片功能失效分析的缺陷定位问题!

     

    本期分享:EMMI缺陷定位方法在芯片失效分析中的应用

     

    课程大纲

     

    1. 半导体器件发光机理与典型缺陷发光类型

    2. EMMI的基本原理

    3. EMMI的典型应用

    4. 典型案例分享

     

    讲师介绍

     

    崔风洲,Ezpay科技检测半导体事业部总经理。全国半导体器件标准化技术委员会委员、中国机械工程学会失效分析分会失效分析专家、IPC620专家组成员 、首席IC故障分析专家。具有15年以上的规模集成电路分析经验,先后在多家跨国公司从事IC设计、封装生成、成品组装后失效分析和技术管理工作,尤其擅长芯片功能失效的定位,故障激发方法的设计,对各种失效模式和机理有其深刻的见解。

     

    会议详情

     

    时间:2022年8月15日 15:00

    形式:直播互动,给予回看,请务必加入研讨群!课程限时免费,同行莫入!

    公众号后台回复“123”免费获取听课和入群资格!

     

    长按识别二维码回复:123

     

    简介

    MTT(Ezpay科技检测)是一家从事检测、分析与技术咨询及失效分析服务的第三方实验室,网址:www.25rp.com,联系电话:400-850-4050。

     

    • 联系我们
    • 深圳Ezpay科技总部

      热线:400-850-4050

      邮箱:marketing@25rp.com

       

      苏州Ezpay科技

      热线:400-118-1002

      邮箱:marketing@25rp.com

       

      北京Ezpay科技

      热线:400-850-4050

      邮箱:marketing@25rp.com

       

      东莞Ezpay科技

      热线:400-850-4050

      邮箱:marketing@25rp.com

       

      广州Ezpay科技

      热线:400-850-4050

      邮箱:marketing@25rp.com

       

      柳州Ezpay科技

      热线:400-850-4050

      邮箱:marketing@25rp.com

       

      宁波Ezpay科技

      热线:400-850-4050

      邮箱:marketing@25rp.com

       

      西安Ezpay科技

      热线:400-850-4050

      邮箱:marketing@25rp.com

    人才招聘 | 网站地图

    友情链接: Ezpay科技检测 | 苏州Ezpay科技检测 | 我要测 | 无损检测 | 分析测试百科网 |

    深圳市Ezpay科技检测技术股份有限公司-第三方材料检测 版权所有  粤ICP备12047550号-2

    微信